晶片測試分類機(jī)
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產(chǎn)品名稱: 晶片測試分類機(jī)
產(chǎn)品型號: 3112
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
高信賴度之PnP自動(dòng)化測試分類機(jī)
x4 多盤置入自動(dòng)測試分類
全方位(X/Y/Z/θ)可調(diào)式探針座模塊
測式座產(chǎn)品堆棧檢測
x12輸出分類盤可程序設(shè)定輸出類別
全程實(shí)時(shí)良率顯示與控制
全程探針接觸狀態(tài)顯示(選配)
晶片測試分類機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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高信賴度之PnP自動(dòng)化測試分類機(jī)
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x4 多盤置入自動(dòng)測試分類
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全方位(X/Y/Z/θ)可調(diào)式探針座模塊
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測式座產(chǎn)品堆棧檢測
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x12輸出分類盤可程序設(shè)定輸出類別
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全程實(shí)時(shí)良率顯示與控制
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全程探針接觸狀態(tài)顯示(選配)
Chroma 3112具備單頭與多頭之適合量產(chǎn)的PnP 自動(dòng)化芯片測試分類機(jī)，可藉由治具變更處理各種不同尺寸規(guī)格之芯片測試與分類。此設(shè)備透 過PnP方式將芯片自芯片盤加載至測試站中，**的測試后依據(jù)測試結(jié)果穩(wěn)定的放置于分類盤中。其高效率的模塊化設(shè)計(jì)與精準(zhǔn)的機(jī)構(gòu)傳動(dòng) 結(jié)構(gòu)可確保在高速運(yùn)作下減少Jam Rate的量產(chǎn)要求，多重檢查功能裝置可降低待測物發(fā)生異常的損壞。
芯片測試運(yùn)用此自動(dòng)化測試分類技術(shù)不僅能提升 生產(chǎn)效率、減少人力需求，同時(shí)也增加了測試穩(wěn)定度及測試良率。此外，其簡潔的機(jī)臺設(shè)計(jì)更可節(jié)省機(jī)臺于測試廠之占地面積，幫助客戶大幅降低生產(chǎn)成本。
